81,500ポイント(円分)通常2~4週間以内
ASTM E2445-14、ISO 16371-1、EN 14784-1準拠
検査成績書、適合証明書(ISO/IEC 17050-1)とケースが付属
ASTM E2445-14、ISO 16371-1、EN 14784-1で定期的な実施が規定されているCRスキャナーシステムの試験に必須
基本空間分解能、不鮮鋭度、コントラストなど、CRシステムの全関連パラメータをテスト可能
 | Part | IQI, Gauge | Test, Check | 
|---|---|---|
| A | T-Target – brass | Laser beam jitter, MTF check, Blooming (Flare) | 
| B | Duplex wire type IQI | Basic spatial resolution, unsharpness | 
| C | BAM snail | Central beam alignment | 
| D | Converging line pair IQI | Line pair resolution | 
| E | EL, EC, ER Measuring points | Shading correction | 
| F | Cassette positioning locator | Position of cassette (image plate) | 
| G | Homogeneous AL strip | Scanner slipping, shading | 
| H | Lucite plate | Carrier plate | 
| I | cm/inch Ruler | Linearity check | 
| J | Contrast sensitivity gauge | Contrast sensitivity check | 
| 適合規格 | ASTM E2445-14、ISO 16371-1、EN 14784-1 | 
|---|---|
| 寸法 | 350 × 430 × 19mm(14" × 17" × 0.75") |