用語集（膜厚計）

電磁式膜厚計: プローブが検出している磁石を引張る力の強さ(磁束密度)が、母材との距離に関係している現象を用いて測定します。
鉄などの磁石がくっつく金属(磁性金属上)の、非磁性皮膜の厚さを測定することができます。
渦流式膜厚計: プローブにより母材に発生している渦電流量が、母材との距離に関係している現象を用いて測定します。
アルミなどの非鉄金属上の、電気を通さない皮膜(絶縁性皮膜)や非磁性皮膜の厚さを測定することができます。
デュアル膜厚計: 電磁式と渦流式の両方の測定方式を搭載した膜厚計です。
超音波式膜厚計: プローブから発信された超音波が、塗膜と素地の間で反射し戻ってくる時間から膜厚を測定します。
金属だけでなくコンクリートや木材上の塗膜も測定することができます。
零点調整: 膜厚ゼロの状態を、膜厚計に設定する作業です。
測定を行う素地と同じ材質で、塗装がされていないところを測定し、零点を設定します。
零点調整を行わないと、正確な膜厚を測定することができません。また、実際に測定を行う素地と異なる材質で零点調整を行った場合にも、誤差が生じます。
校正用フォイル: 薄いプラスチックの板のことです。膜厚計の校正や動作確認に使用します。
素地: 塗膜等の下地である母材部分のことです。
プローブ: センサーのことです。本体と一体型になっている膜厚計と、本体と別れているセパレート型があります。